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當前位置：首頁   >  產品中心   >  電化學設備  >  掃描電化學顯微鏡SECM-SICM

  • 電化學原子力顯微鏡EC-AFM原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。

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    廠商性質：生產廠家
    更新日期：2025-02-18

  • 掃描離子電導顯微鏡SICM屬于掃描探針顯微鏡，它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術， SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息，并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。

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